二手 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9260445 待售

ID: 9260445
优质的: 1995
Prober Microscope arm OLYMPUS Low power scope Chuck type: Gold chuck top, 6" Ring carrier type: Rectangular probe card holder without holder Vision module type: COGNEX Auto align-PRM 3 Auto align: CCD Camera Table type: PT-201 High boy table Ambient Monitor type: CRT Operator console Monitor console Inker / Edge sensor box NCES Profiler Material handling 1995 vintage.
ELECTROGLAS/EG 2001CXE prober是用于制造电子元件和集成电路的最先进的测试设备。它设计用于晶圆探测、电气表征和电气自动化测试设备(ATE)接口测试。EG 2001CXE提供了高级功能和测试功能,使制造商能够以关键的产量高效地执行和通过敏感电子组件的测试。ELECTROGLAS 2001 CXE配备了多轴、6轴运动运动设施,用于探测大型基板。它可以使用z高度控制移动x、y、z、angle (alpha)和theta。其闭环伺服系统具有极好的精度和可重复性,使ELECTROGLAS 2001CXE能够在探针循环操作过程中以及在线性和非线性移动过程中保持定位。此外,其自动匹配单元可确保最佳接触性能,而不管设备包大小或应用程序所需的行数如何。2001 CXE拥有一台精密的视觉设备,能够对基板进行可靠的定位。它可以使用多种算法查找设备位置和方向,包括边缘检测、基准检测、模式匹配或用户定义映射。视觉工具还为操作员提供有关正在测试的设备或主板的信息,例如组件或设备的方向、尺寸、形状和精确对齐方式。2001CXE提供了一个功能强大、用户友好且直观的操作员界面。它易于操作和控制,用户可以快速更改设置或提交命令。命令语言是菜单驱动的,可以设置为适应灵活和自定义的选项。界面还有一个图形显示模式,提供资产及其状况的概览,从而便于对业务进展进行高效监测。EG 2001 CXE提供了高度的功能、可靠性和吞吐量。其卓越的速度和精度使其能够快速准确地测试敏感设备。此外,其复杂的可加载程序充当数据存档,并提供访问测试结果、电路参数和探测数据的能力。ELECTROGLAS/EG 2001 CXE是一种功能强大且高效的测试模型,用于电子工业的各种应用。
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