二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #186971 待售

EG （ELECTROGLAS） ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种自动晶圆探测解决方桉,设计用于半导体制造行业的故障检测、表征和测试。它是探测高密度电子电路和其他结构，以及集成电路（IC）和离散元件的理想工具。EG 2001 X既能执行高速探测,又能执行设备表征和测试所需的更精确、低速探测。ELECTROGLAS EG2001X具有高精度、高速X-Y机动化级,可快速、可重复扫描晶片,精度高达1 μ m。该设备还配备了多种传感器类型以及力控制和主动阻尼，提供了无与伦比的精度和可重复性。此外,探头系统可以同时执行同轴和接触式探测,使用户能够快速表征电压和阻抗要求不同的各种组件。EG 2001X还具有一些增强性能的附加功能,包括执行步进重复探测、测量多个位置的设备参数以及生成测试后工程报告的功能。该单元还包括各种软件工具，如探测配方和测试宏，以自动化和简化测试过程。ELECTROGLAS 2001X还集成了ELECTROGLAS/EG Choice自动化加载系统和VisionESAL导光加载系统,以减少停机时间并提高吞吐量。除了先进的功能外,ELECTROGLAS/EG EG2001X还设计了易于使用和低维护。操作需要最少的培训,其模块化设计使其易于更新或升级。该机还结合了自我检查、自我诊断、自我调整等功能，确保了一致可靠的性能。总体而言,EG （ELECTROGLAS） EG2001X prober是一种先进、高精度和可靠的探测解决方桉,适用于各种半导体应用。它结合了高速扫描、精确定位精度和各种测试特性，成为高密度电路和组件故障检测、表征和测试的理想选择。