二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293591488 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是为提供高性能半导体测试环境而设计的prober。在检测、分选和测量集成电路的电气特性的同时，提供了极好的精度和可重复性。EG 2001 X能够测试常规和复杂芯片组,以实现完整的表征。它配备了用户友好的界面和先进的技术，包括先进的数据共享工具、集成数据分析、EDA（电子设计自动化）兼容性和半自动调试。力求减少人工检验时间，提高生产率和产量。ELECTROGLAS EG2001X具有广泛的探头、集成的测试头和三个具有高度可调性的工作位置，允许用户根据自己具体任务的要求定制prober。其探头配有细螺距针，可用于对电流、电压和电阻等各种电气参数进行直接接触测试。其探针高度可靠和准确，可以精确匹配任何半导体封装的表征需求。设备的400mm晶圆级提供了精确探测的三维对准和精细位置调整。其DFA（模具对齐方式）和WFA（晶圆对齐方式）对齐工具提供了高质量的结果,并以7µm的对齐精度减少了晶圆±对齐方式。2001X采用镶嵌的钨尖针头进行设计,以支持螺旋桨头维护并降低系统更换成本。它设计有一个水分控制单元，确保测试温度始终保持一致。它提供了一系列环境控制选项,以适应不同的测试方桉。EG EG2001X支持各种输入和输出模块,以及内存、绘图和网络连接选项,以便于操作。它的探测和测试功能得到了支持处理和分析的功能的补充。它提供了集成测量套件、测试程序生成器和图形显示的灵活性。2001 X是电子制造商的理想选择,他们正在寻找能够提供可靠和精确测试结果的高性能处理器。这台机器具有广泛的特点,可以根据个人需要进行量身定制.它的灵活性和全面的测试选项使其成为精细螺距探测和IC表征的绝佳选择。