二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604670 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是一种利用原子力显微镜（AFM）提供纳米级精度测量电气和物理参数的仪器。EG 2001 X prober将高精度扫描显微镜技术与先进的集成控制电子技术相结合，提供了一个高精度、高效的测试解决方桉。ELECTROGLAS EG2001X PROBER提供高达200 mm的大扫描区域,实现从简单的接触检查到全自动系统的各种电气、物理和材料参数测量。它可以表征200 mm2大小的设备,其较大的扫描区域可容纳各种探针,从而能够精确测量各种不同材料的阵列。ELECTROGLAS 2001X PROBER的集成电动控制系统为用户提供了从0.1 nm到10 um的一系列扫描速度和分辨率,以确保各种电气测量的数据高度准确。凭借其高分辨率的摄像头系统，用户可以以纳米精度精确定位自己的测量。Prober容纳了多种探针，包括导电AFM探针、静电力显微镜（EFM）探针、开尔文探针、光学探针以及机械探针。ELECTROGLAS 2001 X prober还具有高级软件程序,可实现自动化测试和数据分析。自动设备设置和对齐工具使用户能够快速、准确地设置Prober,而实时电源监控和数据记录则可以方便地并行监控多个设备的性能。此外,prober的软件程序与Windows兼容,允许用户从几乎任何位置监视、分析和控制EG 2001X系统。2001 X prober是一个精密的测试解决方桉，结合了尖端的硬件和软件技术，为用户提供快速、准确、可靠的测试结果。ELECTROGLAS/EG EG2001X prober具有高精度的测量、广泛的兼容探针以及一系列的自动化测试和分析软件工具,是一种非常有价值的电气和物理参数测量工具。