二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604674 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种自动化晶片prober，设计用于半导体晶片测试。Prober有一个大型的自动化XYZ级,用于MEMS和光子学等高大设备,最高可达400 mm的Z-Travel。它的大工作区域覆盖了300毫米晶圆，整个工作表面的运动精度没有下降。Prober还具有独特的柔性销设计，提供了一个高度可靠和可重复的电气路径。这种灵活的连接使Prober能够使用BGA、QFP、Flip Chip和Leaded设备等多种封装类型进行操作。Prober还采用了弹性体技术,可实现安全、无振动的表面,从而降低噪音并提高测试产量。EG 2001 X prober上的AUTOMATED DRIVING ASSISTANT功能提供了一种智能视觉设备,可自动引导测试探测器到达目标引脚。视觉系统使用向导图形用户界面绘制测试程序,帮助操作员快速准确地设置探针。该prober还能够执行恒定的时间延迟测量,这对于测试无线收发器设备（如Wi-Fi和Bluetooth）非常重要。此外,ELECTROGLAS EG2001X prober具有集中式GUI,允许用户轻松创建和管理多个测试程序,以及监视和控制单个单元中的所有探针。该Prober由四核英特尔至强处理器和高达128 GB的RAM提供支持,可提供可靠、快速的晶圆测试平台。EG2001X prober还提供了高度的机器灵活性,以确保满足测试工程和操作不断变化的需求。该工具具有多个可扩展连接节点（ECN）,提供模块化和可升级的体系结构,使用户能够快速扩展功能以满足特定需求。企业更改通告提供了一系列其他软件和硬件选项,包括用于自动设备表征的数据记录器和视觉系统、用于晶圆级测试的高精度计量,以及用于测试具有不同软件包且需要不同类型探测器的设备的多个测试头接口。Prober的Windows环境允许轻松集成到标准实验室网络中,其硬件和软件的既定可靠性为用户提供了安全可靠的环境保证。所有这些功能结合在一起创建了一个自动化的prober,它可以处理各种测试应用程序。2001 X是一个功能强大且功能强大的自动化晶圆测试平台。