二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293606275 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 293606275
晶圆大小: 6"-8"
Prober. 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种设计用于测试半导体器件的高性能、全自动探测设备。该系统可与各种接口硬件和软件集成,以实现对接触位置、压力和阻抗测量的精确控制。Prober能够执行手动和自动接触测试。该探头采用无损、专利、低电流穿透探头,便于精确定位接触金字塔。预应器的热卡盘确保探针与基板之间的可靠接触,并具有较快的温度上升时间,以确保最小的热波动。高性能、高分辨率的Corescanner光学器件利用数字边缘识别技术,实现准确、可重复的触点放置。Prober利用多轴运动单元,结合6轴机器人手臂和高分辨率、高速垂直轴。机器人手臂能够精确精确地定位探针,而高速、高分辨率的垂直轴则可以将触点放置在高密度的封装和高度非平面的拓扑上。Prober可以与多种外部硬件集成,如光学检查系统、自动测试设备(ATE)系统和自动塔式处理程序,从而允许更大的控制和灵活性。此外,prober的数字扫描控制模块允许自动放置触点和优化触点参数。Prober由一台强健的基于Linux的操作机器提供支持,包括了许多高级工具,如直观的图形用户界面、脚本工具、数字接触优化例程和其他用于自动测试的工具。此外,专用软件工具允许集成和控制外部硬件,以及外部设备的数字连接。EG 2001 X prober是一种高度通用的测试工具,为半导体器件的接触测试提供了可靠可靠的解决方桉。Prober的高级功能、集成功能和直观的用户界面使用户能够轻松优化联系人参数,并根据其特定需求准确放置联系人。
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