二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9088269 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是一种用于半导体晶圆测试和制造的强大载体。它是一个高性能的晶圆测试和探测解决方桉，利用先进的技术最大限度地提高成本效益，并以最高的精度和速度产生结果。EG 2001 X是一个全自动探测站，最大探测面积为11 x 11英寸。它具有75毫米Z轴运动的电动X-Y级和高强度0-200克Z轴力反馈设备。该站具有经过优化的低噪声地板和TTL/DC级信号完整性保护系统，可提高高噪声环境下的信号质量。ELECTROGLAS EG2001X还配备了提供细线晶圆对准精度的高速电子束对准装置。它还具有专利的基于功率的晶圆寿命估计器，并有一个全自动校准程序。该站采用温度补偿钢框架，在恶劣环境下最大限度地减少翘曲，并具有灵活的探测解决方桉，以满足特定的应用需求。探测站装有一系列球尖探针，使用高级软件定制探针极限，同时提供准确反馈。探针也可以用多点线性算法进行校准，以确保结果的最大精度和重复性。ELECTROGLAS/EG EG2001X还集成了一个精密的光学设定点对准机，使探针尖端能够精确对准纳米划线，以便在厚晶片上进行快速和精确的探测。EG EG2001X提供了一系列高级测试选项,包括故障分析、嵌入式测试、ON和OFF测试以及表征。它还配备了可选的微型机器人，用于MEMS设备测试和大容量探测。该工具能够提供自动晶圆探测解决方桉，以及用于大容量应用的多晶圆探测解决方桉。此外，ELECTROGLAS 2001X与高速时域反射计集成，以纳秒分辨率对千兆赫频率的波形进行精确可靠的测量。此功能可用于分析数字、模拟和溷合信号波形,有助于减少测试时间和测试成本。总体而言，EG2001X是一种高效可靠的晶片测试和探测方法。它配备了电子束对准资产、精密光学设定点对准模型、TTL/DC级信号完整性保护设备、高速时域反射仪和可选微型机器人等尖端技术。这些功能加上一系列全面的测试选项,使2001 X成为高需求半导体测试和探测应用的理想解决方桉。