二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9116534 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种高速晶圆级探头测试设备，设计用于提供半导体器件的精确和高度精确的测试。它能够在多个节点上测试各种集成电路设备，并能够测量操作。EG 2001 X是一个半自动化系统,集成了探测和处理技术,以提供实时反馈和危害保护。ELECTROGLAS EG2001X单元可容纳直径最大为6英寸的晶片，使晶片的装卸方便快捷。该测试仪还采用闭环热调节机，以确保稳定和可重复的测试结果。该工具还具有高度精确的自动探针定位模块,可在每个探针周期中实现亚微米精度。这样可确保相邻测试点之间的重迭最小化,并确保正在测试的设备与探测器之间的探针间隙一致。ELECTROGLAS/EG 2001 X还拥有每小时高达902,000个探针的高速资产,从而缩短了测试时间,减少了整个晶圆周期的时间。该模型具有多个I/O引脚、每个引脚上的电容耦合以及集成的引脚故障检测功能,允许测试高密度IC设备而不会损坏它们。除了探测能力外，设备还包含一个集成的晶圆处理程序。该晶片处理程序能够安全地在晶片码头和探头之间运输晶片，以最大限度地提高测试吞吐量。EG2001X系统提供了一个高度可靠和高效的测试解决方桉,能够容纳各种各样的晶圆尺寸和集成电路设备。该装置的辅助装置和集成的热和针脚故障检测功能使其成为测试单模具和多模具IC的理想选择。ELECTROGLAS 2001X具有集成的处理器、高精度的重迭测试可能性以及快速、精确的晶圆探测操作,使其成为半导体制造和集成电路设计的宝贵工具。