二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155072 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X Prober是一种高性能并行、自动化的测试设备,专为半导体晶圆推动和探测操作而设计。它是一个可靠和经济高效的工具，旨在处理各种刺激任务，包括晶圆探针测试和参数监测。EG 2001 X非常适合最新一代的高性能半导体技术。Prober提供了先进的扫描能力、全面的运动控制、灵活的推动和自适应运动控制。它配备了带有直观图形用户界面（GUI）的控制界面，广泛的prober选项，以及全自动操作。该系统的运动控制特性允许它用于各种探测应用，从全堆叠晶片的自动测试到中针穿透和3-C探针能力。运动控制还能够提供探针力和晶片存根的精确和可重复的位置。ELECTROGLAS EG2001X Prober的扫描功能可以根据个别需求定制,包括多级扫描、垂直扫描和耙子扫描功能。此外,它还提供内置的电气校准功能,以提高精度。该机组配备了4微米的加速prober精度，可用于各类IC和光电器件。该机的精密设计提供了自动调平支持、自动芯片跟踪和校正、用户定义的堆积检测、高速信号和直流分析等多种功能,以及一系列方便访问的外部端口,可控制多种功能。2001X Prober还具有非常高效的工具配置,允许用户为每个应用程序配置资产以实现最高效率。此外，prober还配备了嵌入式、高性能的返工模型，用于缺陷IC的修复和返工。此外，设备还提供专业维护、数据监控、成像和打印功能，方便高效的数据采集和分析。高效可靠的ELECTROGLAS 2001X Prober是最新一代半导体技术的通用、经济的测试工具。其全面的特性和功能使其成为半导体制造商的宝贵资产。