二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155115 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种自动化设备，用于测试和分析半导体晶片的电气特性。用于集成电路和晶片的质量保证和可靠性测试。它为各种设备的复杂测试和探测提供了高可重复性和可靠性的准确结果。EG 2001 X prober的设计基于其光学设备的模块化构造，提供了多功能性和灵活性。该系统由光学头、透镜组件和控制器组成。光学头可以在二维平面的x、y、z轴中移动宽范围的探针。它具有集成的电动显微镜和可自动调整的电动聚焦，以获得最佳聚焦。探头持有者可以支持各种针对不同测试场景设计的探头，运动可以用数字和模拟命令控制。ELECTROGLAS EG2001X prober的镜头单元采用先进的光学元件和设计原理，提供最大清晰度，计算机控制的图像恢复和放大调节，变焦能力。控制器由一台基于微处理器的机器组成，该机器可以控制prober的所有方面，包括运动、信号采集、数据存储和分析以及报告生成。外部用户界面可用于与程序测试和程序测试进行交互并分析结果。ELECTROGLAS/EG EG2001X prober可用于分析多种参数,如导电特性、电阻、电容、泄漏电流和热效应。可以在工具的交互式用户界面上清楚地显示每个参数的测量值和数据。此外,操作员还可以访问和编辑prober的功能,如移动、扫描、参数设置、测量和数据记录。总体而言,ELECTROGLAS 2001 X prober非常适合大批量生产测试、过程监控以及研发工作等应用。其光学资产、控制器和用户界面使其能够精确、精确地测量和分析广泛的样本类型。