二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155120 待售

ELECTROGLAS / EG 2001X
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 9155120
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-1 Profiler: Piston Microscope: Olympus 99 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu - zoom Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober提供了一套全面的微电子测试和探测能力。该系统提供高价值的操作和配置,能够对精细的IC进行完整的表征和复杂的测试,从而产生精确的故障分析。EG 2001 X Prober旨在最大限度地提高投资回报。它最大限度地提高速度和准确性,同时跟上技术的快速变化。Prober通过完整的软件控制、直观的图形用户界面和符合人体工程学的设计增强了可用性和可靠性。强大的卡盘内控制器可最大程度地减少信号串扰,同时通过单个连接进行操作。它具有精确的伺服运动控制,以确保精确的尖端放置和探针与火焰的接触。支持50个和100个TPI探针,并增强了尖端保护功能,可延长使用寿命,持续数年的可靠运行。配备了20个通道,prober支持使用TestJet、TLA、固定和可移动探针、WaferJet和自定义正弦波的多种测试。此外,ELECTROGLAS EG2001X还提供高精度、高速测量和数据记录功能的50Ghz探针放大功能。数据捕获和分析功能允许动态过程优化。高级计时功能允许快速循环和步骤测试。Prober的高速数据采集通道可以捕获快信号和慢信号。分析板提供探测节点的详细诊断、电流和电压测试、波形监测和AC/DC参数测量。ELECTROGLAS 2001X Prober提供多站点测试功能,包括自定义定时引脚、突发脉冲扫描、自定义测试和自动数字识别。Prober还具有功能齐全的分析功能,包括直方图、统计测试、自动矢量映射和周期/程序定时。集成编程程序增强了协议和自动化。它支持JEDEC、Silicon Connector、TLA3000和WaferJet通信格式,以最大限度地扩大测试覆盖范围。2001X Prober提供自动化的设备编程和灵活的精确故障隔离平台-所有这些都具有更高的吞吐量。
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