二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155126 待售

ELECTROGLAS / EG 2001X
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 9155126
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-1 Profiler: Piston Microscope: Olympus SZ-30 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu -black Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X是为现代晶圆探测和测试而设计的高速多功能prober设备。它提供了广泛的功能,包括:非接触式扫描、高精度运动能力、高速数据采集、高级计量解决方桉和实时反馈。该系统采用三轴晶圆定位器,射程为0.007um,能够精确定位。Prober的纳米级分辨率也为扫描和定位提供了极好的精度。集成的高分辨率3轴线性编码器提供晶圆位置和运动的实时反馈。EG 2001 X实现快速自动扫描,最大采样率为200kHz。它包含了一个电可编程的视野,范围为0.01到1000 mm。这使得prober适合于晶圆、半导体元件、印刷电路板的检验验证等多种应用。该设备配备了功能强大的计量软件,使用户能够轻松验证晶圆和组件的轮廓、位置、大小和距离。该软件还为晶片、组件和pcb示意图提供了全面的可追踪性,有助于确保机器符合行业标准。ELECTROGLAS EG2001X支持多种类型探针卡的连接,提供多种可用于不同类型测试的探针。该工具具有高度可扩展性,允许连接其他附件和外围设备。该软件用户友好,允许用户自定义设置,观察实时流程反馈,确保可重复性和准确性。总体而言,EG2001X是一项出色的prober资产,可提供高度精确的扫描和定位功能、快速的数据采集以及全面的计量软件。它旨在满足各种应用程序的要求。Prober模型具有用户友好的软件和可扩展性,是半导体和PCB测试的理想解决方桉。
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