二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155129 待售
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ID: 9155129
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision.CE (Eprom)
Ring carrier: RC-2
Profiler: Piston
Microscope: Olympus 99
Chuck top: 6 Inch gold-ambient
Align camera: Cohu-zoom
Z Stage: PZ-150, 0.5-mil
DAR Resolution: Low
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-2
Power requirement: 220 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种先进的晶圆测试设备,设计用于高精度探测。它能够以快速的吞吐量执行复杂的测试序列,使其成为集成电路生产过程中必不可少的一部分。EG 2001 X prober是由探头、测试头、隔振单元和射频屏蔽组成的第8代系统。该机配备了高分辨率的光学编码器,在每个测试地点提供精确且可重复的探测,最高分辨率在1微米以下。这使得该工具可用于测试高级IC,如内存、模拟和数字逻辑设备。测试头包括一个机械库,可容纳多达16个PCB或薄膜基板。每个PCB最多可容纳4500个设备。测试头还包括可与数字和模拟测试系统以及SMU和RCU连接的计算机控制资产,用于高速和精确的探测。探头设计为支持所有类型的设备包。它包括多达32个可以快速更换的浮动接触器,以及传感范围高达10牛顿的8个力传感器。探头还包括具有弹射能力的全注入溷合室,以及晶片断裂检测器。隔振模型减少了振动、冲击、静电荷和静电放电引起的位移和力。其专利设计保持低调配置,占用最小的地板空间,并且可以快速重新配置以满足生产需求。ELECTROGLAS EG2001X prober是一种高度可靠的晶片测试设备,旨在提高测试周期时间和产率,同时降低测试成本。该系统包括多种功能,可在每个试验场提供准确和可重复的探测,以及用于精确测试结果的隔振和射频屏蔽。它是在大批量生产环境中进行高级IC测试的理想解决方桉。
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