二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9194747 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 9194747
晶圆大小: 6"
Manual wafer probers, 6".
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober是一个由EG制造的商用晶片探测站,设计用于半导体晶片的测试。它非常适合在生产线和实验室环境中使用,因为它能够快速、准确地执行高精度扫描和测试任务。EG 2001 X Prober有几个关键特性,使其成为半导体测试的理想选择。它配备了先进的3轴设备,可实现精确的模式识别和自动控制。该系统与200针电容耦合探测节点相结合,能够高精度地同时测试多针。该平台还包括一个自动3轴样品装载机,它提供快速和精确对准样品,以及一个高分辨率显微镜,提供正在测试的晶片的特写视图。ELECTROGLAS EG2001X Prober能够测试范围广泛的半导体材料,包括铝、硅、砷化氙等。它可以处理12英寸的最大晶圆大小,并且每个测试站点的最大针脚数为120。该单元还能够并行执行多个测试,以减少周转时间。它还具有存储测试模式的能力,并具有内置的定时生成器和日志,可用于存储测试信息。这个商用晶圆探测站配备了直观且易于使用的图形用户界面(GUI),允许快速编程和设置。它还能够实时访问以图形和数字方式显示的测试信息。这允许快速故障排除和高效的产品测试。总体而言,2001 X Prober是半导体晶片精确、精确测试的绝佳选择。它的3轴机器提供了优越的模式识别和自动化控制,而其200针电容耦合探测节点使并行测试变得快速和容易。内置功能还使存储测试模式和访问测试信息变得容易,直观的GUI使设置和编程成为一种微风。
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