二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9316459 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一种用于制造集成电路的半导体测试设备。它用于表征集成电路芯片建成后的电气特性。该单元利用了一系列接触集成电路表面的探针。探头测量探头接收到的电信号，然后连接到设备的计算机记录数据并进行分析。Prober具有一个可以移动在X、Y和Z方向上被测试的集成电路的阶段，允许探针有效地到达所需的测试位置。它是马达控制的，虽然也存在手动控制。电机运动的精度可以调整，允许探头的精确放置来测量特定的测试。所使用的探针是接触集成电路垫表面的高精度尖头针，执行各种测试，如电流、电压和逻辑状况检测。Prober包含一个带有插槽的测试头以接受这些探测器。它还具有带有计算机系统的电气控制头,该系统记录探测器检测到的数据,以便在PC分析仪上进行分析。EG 2001 X prober主要用于测试集成电路的物理特性。它能够测试多种因素，如短裤、开口、接触阻力和电流泄漏。它与用于各种测试的双面和单面设计兼容。该单元还能够测试温度变量，进一步推动其可以执行的测试类型范围。ELECTROGLAS EG2001X PROBER是半导体公司的一个重要工具，他们希望能够完全了解其产品的电气特性。由于其电动级和出色的探头范围，该装置既可靠又精确。通过能够准确测量集成电路芯片的电气特性，商家可以确保自己的产品质量最高。