二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9356489 待售
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ID: 9356489
晶圆大小: 8"
Automatic wafer prober, 8"
XY Linear motion table
Z Chuck
Gold plated chuck, 8"
Auto-aligns to selected home position
BAUSCH AND LOMB Stereo zoom 4 microscope
Prober power (PPC)
Halogen illuminator
(3) Height adjustable mounts
Autoloader carrier
Vacuum port on PPC
Vision modules
Video operation
No cameras / Accessories
No vacuum pump.
ELECTROGLAS/EG 2001X是一种用于测试集成电路性能的半导体晶圆探头。该探测器能够自动、高速地探测晶圆表面。EG 2001 X在基于矢量的设备上运行,可同时扫描多达150个探测器。这使得prober能够以极低的延迟处理大量的测试点。以每秒高达500万个测试点的速度,prober为大批量生产提供精确度和速度。该螺旋桨由集成的电机控制器系统提供动力,对位置和速度进行精细控制。这使得prober能够提供准确和可重复的结果。此外,ELECTROGLAS EG2001X还具有双轴伺服电机,以确保测试矢量保持在严格的公差范围内。该程序还使用自动校准装置。这台机器可以跟踪、测量和数字记录校准结果。此外,2001X还提供了对测试数据和晶圆表面形态的深入分析。此功能允许用户比较来自不同测试环境的测量数据,并对电路性能获得更深入的见解。ELECTROGLAS 2001X旨在在各种环境条件下有效运行。这包括温度环境从-15°-55°摄氏度,湿度从20%到80%.此外,prober还具有ESD、过压和过流保护机制,即使在苛刻的测试环境中也能可靠地执行。EG EG2001X还附带了一套用于控制探针和分析测试数据的软件。该工具与各种第三方软件应用程序兼容,使其具有高度的通用性。总而言之,prober为半导体晶圆测试提供了强大的性能、可靠性和多功能性。
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