二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9398570 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是设计用于半导体测试和分析应用的多功能prober。此Prober提供了广泛的功能,包括执行集成电路的电气测试和探测（包括具有细螺距引线的电路）的能力,以及物理探测（包括X射线断层扫描的功能）。EG 2001 X prober有一个可定制的高速多轴级，可以用来快速准确定位标本。它利用可编程的图形用户界面，允许用户精确设置所需的位置。该探头具有独特的电容式移动头，可提供出色的电接触，以确保可靠的探测结果。它使用压电驱动的晶圆调平器在探测前对样品进行调平。晶圆调平器还增强了测试站点和探头之间的接触。Prober的设计最多可容纳八张测试卡，可以方便地装入机器进行测试。设备配备了高分辨率CCD相机和图像处理能力，允许对捕获的图像进行操纵，使其适合分析。它还有一个光学显微镜，提供探测器和测试地点的详细图像，允许更精确的探测。它还配备了高速扫描电子显微镜，能够产生用于故障分析的试验场的亚像素级图像。ELECTROGLAS EG2001X prober系统通常与专门的晶圆探针结合使用,例如Agilent 9500系列或GSI-MicroTec MMC-9000。它也用于测试处理程序和其他外围设备，如冷却器、温度/压力控制器和数据采集/分析系统。此外,该单元还能够为集成电路或子组件供电并进行测试。ELECTROGLAS/EG 2001 X prober是一种用途广泛的工具,非常适合半导体器件的测试和分析要求。由于其先进的硬件和用户友好的图形用户界面的结合，它能够提供可靠的探测和测试结果。此外，该机设计用于快速设置和测试，以及易于维护和升级。该工具为任何半导体器件测试和分析应用提供了功能强大且经济高效的解决方桉。