二手 ELECTROGLAS / EG 3001X #293604678 待售

ELECTROGLAS/EG 3001X是一种用于测试集成电路和其他半导体器件的电气特性的探测器。它能够探测各种类型的电路，并且能够产生高分辨率的数据，从而能够对被测试设备的电子特性进行彻底的评估。EG 3001X包括三个主要组成部分：探测站、探头和控制电子设备。探测器工作站用于对准和定位探测器,并在执行测试时提供稳定的环境。它还包括一个探针缩回机构，以保护微妙的电路在测试过程中免受损坏。探头包含实际接触正在测试的设备的prober组件。它可能包括不同大小和形状的多个探针，允许测试不同类型的芯片。它还可能包括用于保护探针在测试过程中不会移动的机械臂。控制电子设备由相互连接的计算机组成,用于测量、记录和存储来自探测器的数据。ELECTROGLAS 3001 X具有广泛的特性，包括精度0.2微米、可编程逻辑功能、高速逻辑分析仪和GRAIL网络适配器。此prober还支持各种测试包,包括SSA、WSA和CSA。3001X设计用于实验室、大学和其他研究机构。它是测试分析集成电路等半导体器件电性能的高效可靠的器件。