二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293589319 待售
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ID: 293589319
优质的: 1999
Prober
Commander version: DOS EGC 7.3.8
DCM Version: DCM 2
VM Alignment system
DPS Camera
Z-Stage: 0.125
Chuck material: Gold
Chuck type: Hot
DPS Camera
Material handler module
Display control module
Prober control module
Vision module
OCR Camera
Bridge camera: COHU
1999 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090 Prober是由电光系统(EOS)製造的自动化晶圆prober。该设备旨在在制造过程中快速自动化测试集成电路(ICs)基板的过程。EG 4090 Prober具有探针持卡器、Z轴扭矩面板、温度控制系统和高分辨率数字视频显微镜。探针持卡器允许精确探测含铅组件,确保测试探针只与被测设备上的预期测试点接触。Z轴扭矩面板允许微调测试探头对被测设备施加的力,以便更精确地测量和减轻应力引起的对被测设备的损坏。温度控制单元确保在受控温度环境中进行测试,从而确保在给定温度下被测试设备的准确运行。数字显微镜支持对被测装置进行光学检查,从而能够更精确地测量和更清晰地查看任何潜在缺陷。ELECTROGLAS EG4090 Prober旨在提高IC的测试覆盖率和产量,并缩短整体测试时间。它支持多种配置和晶圆大小,以及用户可编程的无码测试覆盖等高级模块功能。模块化设计使用户能够根据自己的特定需求轻松调整机器配置,从而实现更高的多站点测试效率和成本节约。该工具还具有全面的ESD保护功能,既可以保护正在测试的设备,也可以保护处理器本身。此外,该资产支持各种各样的软件应用,允许用户定制自己的测试解决方桉。总体而言,ELECTROGLAS/EG EG4090 Prober是一种高效、可靠的晶圆prober,用于IC测试。它提供了一个快速测试基板的自动化过程,使其成为制造应用中IC的理想解决方桉。
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