二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293592483 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090
ID: 293592483
优质的: 2000
Prober Commander version: WIN EGC 7.3.8 DCM Version: DCM 4 VM Alignment system Z-Stage: 0.125 Chuck material: Gold Chuck type: Hot LCD Monitor Material handler module Display control module Prober control module Vision module OCR Camera Bridge camera: COHU 2000 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090是用于半导体测试和探测的超现代多器件prober。它具有用于复杂集成电路和技术节点的高分辨率、大规模生产应用。该探头具有可重复、精确的探测和采样功能,并具有自适应增益控制功能,可用于有效的探头例行操作。EG 4090还配备了一系列灵活的测试设备选项、可配置的硬件和软件,以及高速扫描功能。ELECTROGLAS EG4090将高端探测和精确采样与广泛的集成组件结合在一起。它能够执行复杂集成电路的高分辨率探测、高速采样和大规模生产环境等各种任务。该探头提供了一个高效的探针常规操作与亚微米分辨率和准确放置针尖。Prober可配置的硬件组件包括自动prober控制设备、AC驱动的伺服/线性步进电动机、通用对接站、枢轴臂、防振动系统和交钥匙单元接口。这允许用户自定义其prober的设置,并且在运行特定测试时具有广泛的选项。集成样机还包括160点内存板,有助于简化重复测试周期。4090附带了一系列测试设备选项,例如信号分析仪、噪声分析仪和时域反射计。信号分析器具有高精度捕获功能,可帮助用户检测信号异常并减少调试时间。噪声分析仪提供了对最恶劣信号环境中信号行为的洞察力。利用内置的时域反射计,用户可以测量被测电路的信号传播和反射特性。ELECTROGLAS/EG EG4090 prober还具有强大的软件解决方桉,包括用于自动数据捕获、数据解释和数据处理的软件解决方桉。这使用户能够高效地自动执行测试过程并优化其周期时间和吞吐量。Prober还支持各种语言,包括英语、中文、日语和韩语,并且可以容纳任何用最现代的语言和脚本创建的过程。总体而言,EG EG4090是一种先进和可靠的探针,它提供精确和可重复的针尖定位,以便进行高效和准确的探测和采样。它具有众多集成组件、可调硬件、坚固的软件以及各种用于生产的测试设备。此外,它的高分辨率、可配置的设计使其成为多设备处理器的绝佳选择。
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