二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293606421 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090
ID: 293606421
晶圆大小: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" OCR Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090 Prober是一种多用途晶圆prober,用于测试和表征应用。它在半导体、光电和其他半导体器件测试应用中提供了广泛的功能和性能要求。它采用模块化设计,允许灵活的配置以满足特定的客户需求。Prober用于测量封装半导体器件的电气和光学特性,以及独立集成电路(IC)和组件。具有较高的吞吐量,适用于自动晶片测试和探测。Prober配有闭环运动控制设备,可以进行快速和可重复的测试。EG 4090系统配有操作员控制台,提供图形用户界面进行操作。此控制台允许与prober及其集成测量单元直接通信。这台机器具有内置信号处理功能,允许实时操作测试数据。Prober完整的用户界面允许实时控制参数,如晶圆移动和测试速度。该探头支持广泛的接触探针,如粘合剂粘合和热电偶。它被设计成颗粒状,允许它测量非常小的信号。Prober还配备了自动卡盘工具,可以更快地探测。卡盘和车轮资产可产生高达1毫米的读数。此外,ELECTROGLAS EG4090提供多种测试算法,如参数和高频响应测试。它能够在IC的所有活动区域执行测试,这有助于确保设备在所有区域进行测试,而不是仅在几个位置进行测试。EG EG4090支持一些测试后分析功能以及深入的统计分析。Prober配备了广泛的编程和控制语言,可以方便程序开发。ELECTROGLAS/EG EG4090 prober的设计非常可靠,预期寿命长。该模型通过了无数次可靠性测试,使其适合永久用于要求苛刻的半导体测试应用。Prober的耐用结构可确保所有组件随时间推移保持工作状态。此外,EG4090还配备了可升级的测量设备,允许用户扩展prober的功能以满足客户不断变化的需求。
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