二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293606517 待售

ELECTROGLAS/EG 4090是一种前沿探头，设计方便半导体晶片的自动化测试。这台机器是EG 40xx系列的一部分，针对精度和速度进行了优化，能够在一个通道内测试多个晶片，使用专用的XYZ运动设备和高级金刚石晶状体，能够在极宽的动态范围内进行高分辨率、重复性和整体精度的探测。EG 4090的组件包括x和y级、z轴和动态数据调整。X级和y级由坚固、高性能的交流伺服电机驱动,提供2.5 μ m的定位分辨率。Z轴由直流伺服电机驱动,提供0.25 μ m的堆迭定位精度。精确度和速度的结合使得ELECTROGLAS EG4090一个强大的PROBER来支持日益增长的半导体制造过程的需求。探头由一种专有的动态数据调整算法控制，它提高了ELECTROGLAS 4090的整体分辨率和准确性。其精密的剖面跟踪系统能连续识别和分析表面特征，而垂直压力稳定单元则在大Z轴运动上提供恒定的飞行压力。多项附加功能使ELECTROGLAS/EG EG4090一个出色的prober，如其X和Y轴30 mm的大工作区，Z轴300 mm，单色5.7英寸液晶显示屏，以及提供探头和刀具状况实时监控的集成故障检测机。EG EG4090还集成了强大的软件以支持其测试功能。其中包括探测操作系统、用于定义晶圆映射的探测配置、自动晶圆映射、便于实时数据可视化的探测数据查看器以及泄漏/C-V测试软件包。硬件和软件的整体结合使EG4090成为一种功能强大且用途广泛的支持工具，经过优化，可以测试后来的小型化半导体技术。