二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293753143 待售

ELECTROGLAS/EG 4090是一种用于半导体器件测试的prober。它为测试小型设备提供了先进的自动化、高精度和高吞吐量。该系统利用基于检流计的扫描传感器，在生产环境中快速测量设备的电气特性。EG 4090 prober设计用于设备的多站点测试。它使用一对x-y阶段在多个测试站点自动定位正在测试的设备，并从一个站点快速移动到另一个站点。这样可以在单个测试步骤中实现多个设备的高吞吐量。ELECTROGLAS EG4090 PROBER灵活,可用于测试各种小型设备,包括垂直安装设备。它也可用于探测平坦或倾斜的表面测试以及弯曲倾斜和包裹测试站点。该测试仪利用一对自动化、独立、直接驱动的x-y级，在每个测量地点快速、准确地对准被测装置。这些阶段即使在要求最苛刻的应用程序中也能提供高精度、重复性、耐用性和可靠性。为了确保准确和可靠EG4090测量，prober利用了几个层次的自动化。它包含了自动x-y级对准、自动接触高度调整和自动铅补偿的独特组合。这样可以确保所测试的设备始终被准确可靠地测量。ELECTROGLAS/EG EG4090 prober还利用基于检流计的扫描技术快速测量参数器件参数。该工具能够提取整个漏源电阻曲线，这对于评估晶体管、二极管和参数器件测量非常重要。ELECTROGLAS 4090 prober还配备了可选的真空卡盘和静态卡盘模块。真空卡盘在测试晶片或其他大型芯片组件时特别有用，而静态卡盘模块可用于小零件和组件的可重复可靠测试。总体而言,EG EG4090 prober是一个非常通用的prober,用于测试从小型设备到大型芯片组件的所有内容。它结合了高精度、重复性和灵活性,以及几个自动化级别,以实现快速、可靠和准确的测量。