二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #9070789 待售
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ID: 9070789
Prober
Hot chuck Nickel
EG4090 base unit
Automatic PTPA / needle height aligment
Direct Probe Sensor II (DPS II)
Probe-to-Pad Optimization (PTPO)
Probe Mark Inspection (PMI)
Ink Dot Inspection (IDI)
Wafer Stepping and Scaling Calibration (WSSC)
Automatic Probe Cleaning and Continuity Pad
Chuck Probe Contact Sensor II (CPCS II)
RS232C, TTL (parallel I/O), GPIB (IEEE-488)
EG Enhanced, RDP
Network Interfaces* Ethernet (10/100 Mbps)
Real time wafer map display
Group index
Multi-pass probing
Soak time
CE marked
Bump height setting
St 3 color signal tower
Service manipulator (tester supplier)
Head plate with Top load 9.5" (241mm RC2)
Software: EG Com ver 7
DOS computer
Z-Resolution: 0.25 mil.
ELECTROGLAS 4090 Prober是一种半导体自动化测试设备（ATE）。它设计用于半导体器件的高速测量和电气测试，集成了晶圆探测、晶圆分选和详细的器件表征。Prober具有集成的XY定位表,范围为1到4英寸,允许将设备或样品轻松准确地放置到测试位置。此外，该螺旋桨利用主动电子对准来快速准确地放置设备，并利用Autoscan函数来进一步提高对准精度。4090 Prober包含四个模拟和数字测试电路通道,允许对晶圆I/O和设备性能进行快速、一致和可靠的测试。Prober还包括waferChuck,它在prober和被测试设备之间提供自动接触保护和机械电气隔离。ELECTROGLAS 4090 Prober还具有丰富的过程控制和分析工具。这包括Autoselect和Autograph功能,允许在监视产量、趋势和性能参数的同时自动选择设备和显示图形晶圆。该程序还包含内置的统计分析功能,这些功能允许在短短几个步骤中对数百个测试结果进行数据关联和分析。此外,4090 Prober还提供了直观的图形用户界面（GUI）。GUI使用户能够快速了解prober的功能和命令,并快速准确地运行测试。Prober还提供了广泛的资源和工具来帮助用户快速开发自己的探测程序，并且可以在库中组织自定义的脚本以便以后重用。总体而言，ELECTROGLAS 4090 Prober是高速测量和半导体器件电气测试的绝佳工具。它集成了方便准确的晶片探测、晶片分选和设备表征功能，以及直观的过程控制和分析工具。Prober为用户和工程师提供了一个强大而有效的解决方桉,用于快速准确地测试半导体器件。
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