二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293589312 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u+Prober是最先进的探测解决方桉之一。EG 4090 U+是一种用于高速、高密度探测应用的多应用多探针探测器。利用先进的多探针技术，可以测量各晶片或系列晶片上不同位置的电气特性。它有一个单程机械臂，能够同时晶片，模具，和子模具探测的高精度和速度。这允许用户快速、准确地测试多个设备,而无需切换探测器或调整设置。该设备还具有较大的探测区域，可实现高吞吐量，并结合了先进的视觉系统，可准确高效地定位测试地点。再者，ELECTROGLAS EG 4090U+使用了功能强大的集成计算平台和高级软件，可以支持不同的探测应用系统。它可以处理多种自动探测算法，如设备连接、多站点系统探测和故障定位。而且软件还可以控制测试参数、晶片到探针的连接以及探针对准。ELECTROGLAS 4090 U+Prober配备了电动XYZ级，为详细的探测操作提供精确、均匀的运动。此外,设备还可以存储多个探测器位置以进行进一步探测。它还具有符合人体工程学的设计和易于访问探针卡的功能,使操作员能够在需要时快速重新配置探针。此外,ELECTROGLAS/EG 4090 U+Prober集成了先进的光电监测机,与各种激光测高设备配合使用。这样可确保探针始终与晶片正确对齐,并保持最佳探针尖端位置。此外，它还可以检测晶片污染，确保只探测干净晶片。总体而言,4090 U+Prober为大型高速探测操作提供了可靠的解决方桉,能够支持不同的应用程序系统。其通用的设计和集成的软件为测试和诊断提供了无与伦比的灵活性和准确性。