二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293589344 待售
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ID: 293589344
优质的: 2002
Prober
Commander version: DOS EGC 7.3.8
DCM Version: DCM 2
VM Alignment system
Z-Stage: 0.125
Chuck material: Gold
Chuck type: Hot
LCD Monitor
Material handler module
Display control module
Prober control module
Vision module
OCR Camera
Bridge camera: COHU
2002 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一种自动化晶片prober,设计用于半导体晶片、裸模和单晶片的自动测试。该prober的特点是一个机械臂能够在三个轴线-X,Y,和Z-和四点探测设备。探头坚固的设计可以容纳直径达200毫米的半导体晶片。高分辨率、可编程的双轴样品分级系统允许精确放置晶片,而四点探测单元则确保准确和可重复的接触。该机器有四种不同的探测技术:高分辨率x-y (XY)、力控制、接触自动化和互连。XY探针提供了不到1微米的可靠放置精度,以及一个安全支持晶圆探针的三维集成移动工具。力控探头提供了非常快的夹紧速度和不妥协的性能,从而提高了吞吐量。接触自动化探针是为高可靠性接触性能而设计的,即使在自动回流环境中也是如此。互连探针使得评估线键和其他互连特征成为可能。该资产还具有先进的扫描算法,以确保准确和可重复的探测。专有软件可以对四种探测技术中的每一种进行独立扫描。该模型的先进反馈控制算法提供了可靠的性能和更高的测试吞吐量。EG 4090u还可以配置可选的摄像头设备,用于实时监视晶圆探测器站点。该系统的其他功能包括晶圆处理单元、故障检测机和晶圆对准工具。晶片处理资产包括一种特殊的卡带模型,它以多种格式存储和传输晶片。故障检测设备使用户能够在探测之前检测到故障站点。晶片对准系统允许晶片的精确定位,确保准确和可重复的探测结果。该单元直观的图形用户界面为操作员提供了方便和直接访问机器的各种功能。
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