二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606463 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u prober是一种历史悠久的半自动晶圆prober，广泛应用于半导体制造业。EG 4090u主要用于世界各地实验室的故障分析和表征探测应用。设备主要由垂直臂组成，将探针卡移动到晶圆上的单个或多个测试地点上方。垂直臂由铝或不锈钢制成,具体取决于客户的具体要求。它具有很大的X-Y运动范围，可以提供平滑运动的可重复性和精度的均匀性。垂直臂连接到运动控制/信号调节子系统,从而在测试过程中实现快速的响应时间和可靠的探测。它还能够控制多达四个独立的轴-X、Y、Z、U。prober还具有一个视觉摄像机单元,可以使探针卡在晶圆上的测试点上精确对准。通过直观的软件界面定期维护和校准这台视觉机器，确保探测卡始终与测试站点保持一致。探针卡可以是可编程的,也可以是固定选项。4000u提供了独特的可编程功能,允许用户根据其特定的应用程序要求,使用主动和被动探针组合创建探针卡。主动探针由于其较高的频率操作和较快的响应时间而启用了高级测试能力，而被动探针则更适合静态探测应用。为实现探针卡与被测晶片之间的可靠电接触，电极GLAS 4090 U装有真空工具，设计用于将探针卡固定到位。该产品还配备了用于探测、缓冲和接触器部件的气动资产，以及用于晶圆输送和外卖的缓冲模型。出于安全考虑,ELECTROGLAS/EG 4090 U配备了双门外壳,旨在保护所有操作部件免受任何外部干扰或损坏。所有的门都必须关上，设备才能开始操作，两个门的开关由电子联锁系统监控。4090 U具有额外的光学隔离I/O功能,允许连接测试板和测试座椅等外部测试附件,从而进一步实现其应用。4090u prober是为数不多的提供最大灵活性和可靠性的半自动化系统之一。它具有精确的X-Y运动、视觉摄像机对准单元和主动/被动探针，适用于广泛的故障分析和表征探测应用。