二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606469 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 293606469
晶圆大小: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一种用于测试和分析集成电路设备的prober。它是为晶片的高速探测和模具级设备测试而设计的。EG 4090u允许用户操纵压力、力、速度等多个参数,以获得准确的测量结果。ELECTROGLAS 4090 U具有高速XY扫描仪,可用于高速、高精度探测的测量。ELECTROGLAS 4090u的扫描循环速率高达400 Hz,允许对设备进行高速测试。它还有一个闭环Z轴自动对焦设备,可以自动检测设备中的缺陷,并保持被测设备(DUT)和探头之间的一致接触压力。这样可以确保获得的测量结果准确,而无需手动调整设备位置。ELECTROGLAS/EG 4090 U有一个大型模具级微波补偿系统,有助于通过最小化机械部件引起的振动来减少测量误差。它还具有SPC(统计过程控制)功能,允许用户在测试前检查过程变化并检测设备上的任何潜在缺陷。4090 U有一个专利对准单元,称为校准对准机(CAS),允许探针和被测装置之间的对准。CAS还具有二维对齐工具,有助于确保更精确的对齐。此外,CCD(电荷耦合器件)图像传感器有助于在对准过程中提供更好的模具视图,允许用户快速对准探针和器件。EG 4090 U具有远程诊断资产,允许用户跟踪和分析测试过程,即使他们不在测试现场。这样可以确保快速识别和解决与探测器相关的任何问题。4090u有一个符合人体工程学设计的面板,这使得用户可以很容易地操作prober以最小的努力。用户面板具有启用Web的用户界面,允许用户检查、查看、创建新协议或修改现有协议或设置。最后,ELECTROGLAS/EG 4090u是一种先进的探头模型,设计用于高速和高精度探测。EG 4090u凭借其获得专利的对准设备、CCD图像传感器、远程诊断系统和符合人体工程学设计的面板,为集成电路设备提供了准确可靠的测量结果。
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