二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293606499 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u+是一种设计用于半导体测试和故障分析的prober。它能够探测复杂的布局，如多芯片模块和精细间距集成电路。EG 4090 U+prober提供了多种功能,使探测和测试比以往任何时候都更快、更轻松。Prober配备了功能强大的计算机、软件和硬件,可实现精确、准确和快速的探测。运动部件的高速运动由X-Y-Z轴启用，使得多个晶片被扫描和探测的速度比其对应的要快。此外,ELECTROGLAS EG 4090U+还集成了一个快速高效的数据传输接口以及高级逻辑控制和高分辨率探针尖端控制,为用户提供了精确和精确探测所必需的工具。EG 4090u+能够高速探测和测试各种组件和技术节点,从而减少了完成每个测试和探测过程所需的时间。利用它的自动化套件、高速扫描路径和算法，这个prober被设计为允许用户提取高质量的测试结果，并有效地进行精确的探测。ELECTROGLAS 4090u+具有多种有助于其精确度和速度的特性，如先进的远景、超精密探针尖端和高分辨率视觉传感器。此外,prober还具有先进的逻辑控制、高速数据传输和快速探测功能.这些功能有助于获得可靠的结果和快速测试。Prober设计为易于导航和控制以访问测试参数的软件,以及易于访问测试和探测数据的用户友好用户界面。ELECTROGLAS 4090 U+能够探测、测试和诊断多种设备的多种技术。其通用的设计和可靠的操作允许在各种组件和设备中进行测试。此外,此Prober还提供了EG的最新技术,为复杂的设备类型提供了高级级别的探测和测试。EG EG 4090U+是一种功能强大、可靠的半导体测试和故障分析工具。其高速操作和通用软件相结合，为用户提供精确、准确和高效的测试和探测过程。集成的特性和高分辨率的传感器使这种传感器成为任何研发实验室所必需的。