二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606503 待售

ELECTROGLAS / EG 4090u
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 293606503
晶圆大小: 6"-8"
Prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一款专业的高精度探测器,具有独立和自动探测功能。它提供各种设备类型的高分辨率分析,如集成电路、离散板和裸板。此Prober提供了出色的可重复性,可转换为高精度性能和高吞吐量。EG 4090u prober具有低振动高速平面扫描运动。它以始终如一的高精度和高精度提供了高效、准确和可重复的基板和设备特性测量,是集成电路开发和分析的理想选择。ELECTROGLAS 4090 U可以探测多种设备尺寸,从细间距IC到12英寸的设备,最小可达到1 mil的轨迹、垫和空间,还可以使用最小间隙频率技术探测高达0.5 mil的间隙。ELECTROGLAS 4090u prober轻巧刚性的结构允许高精度晶圆探测,重复性优于10微米。ELECTROGLAS/EG 4090 U prober有许多高级功能。它拥有通用的prober运输设备和兼容的prober夹具。它支持C轴旋转,提供完整的360度半导体器件覆盖。C-Axis还提供"对角"探测,用于球栅阵列和封装设备类型等短轨迹测量。在手动和自动模式下使用的耐胺不锈钢覆盖表有助于确保测量时的偏差控制,以确保精度。该系统支持各种自动化测试,从标准半导体测试到天线分析。4090 U prober可用于故障分析、生产监控、生产测试等多种应用。该单元还支持多种测试系统,如网络分析仪、矢量网络分析仪、阻抗计和曲线示踪仪。总体而言,4090u是一种高性能的处理器,能够在各种基材和设备类型中实现高精度晶圆分析。其低振动平面扫描运动保证了高重复性和低噪声性能。Prober的先进功能包括独特的通用prober传输机、C-Axis旋转以及耐胺不锈钢覆层表,以获得最佳精度。EG 4090 U prober具有出色的精确度、重复性和性能,可用于多种应用。
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