二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293821914 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u+ prober是一种设计用于半导体晶片精密探测的高性能测试和测量装置。这种装置能够在晶圆和模具水平上对电气特性进行可靠和可重复的测量。Prober配有两个超高效探针卡,在x轴和y轴上提供高达100微米的分辨率,并支持高级电磁干扰（EMI）滤波。EG 4090 U+还支持全方位的晶片卡盘尺寸，包括最新的6英寸和8英寸配置，允许同时测试许多晶片。Prober还配备了精密的软件，为用户提供卓越的实时探测能力。此软件可配置为支持各种探测模式,包括自动化、手动和批处理操作。ELECTROGLAS EG 4090U+具有数据记录、统计反馈和可编程警报等高级功能,可轻松跟踪测试结果不完整并快速识别问题。Prober还配备了全面的、符合人体工程学的板载工作区,使其更易于访问和调整组件。直观、易于使用的图形用户界面（GUI）为用户提供了测试数据的有组织视图。GUI还允许用户定义的对齐调整以进行更准确的探测。EG 4090U+具有先进的安全功能和监控功能,可确保安全和一致的操作。外部压力敏感互锁通过禁用电源传递和防止未经授权的操作,提供了一层额外的保护,使其免受潜在危害。强大的接地夹系统有助于最大程度地减少破坏性冲击和潜在的短路,消除不必要的停机时间和潜在的损坏。总体而言,EG EG 4090U+是寻求可靠、高效的半导体晶圆测试需求的用户的理想选择。凭借其广泛的功能和先进的安全控制,它确保为用户提供卓越的性能和长期的可靠性。