二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9074280 待售
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ID: 9074280
晶圆大小: 8"
Auto probe station, 8"
TEMPTRONIC Tri-temp gold chuck top assy
Cassette loader
GPIB / RS232C / TTL Tester interface
Temperature range: - 40°C to +150ºC
PZ-7 Z-Stage
Z Resolution: 0.125 Mil
PTPA (Probe To Pad Alignment), PTPO
Display control module with EG Commander 7.3 for DOS
Vision module with dual bridge CCD Camera assy
LCD Touch screen monitor
OCR
Air dryer
TEMPTRONIC TPO3000A Chiller
Input voltage: 220 VAC, 50/60 Hz, Single phase.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一种用于在晶圆基板上测试和探测单站点或多站点设备的prober。它使用专有的电气表征技术来提供全面的、可重复的表征,可以应用于各种材料。EG 4090u构建在模块化平台上,便于安装和重新配置。它支持各种高频探测解决方桉,可以针对任何主板或设备进行定制。高压探测是可行的,可持续的高压速率高达500V直流.通过使用交换机矩阵和多达256个探测站点启用了多站点探测。指尖和线性探针提供卓越的分辨率和重复性,提供快速探测时间和高精度。ELECTROGLAS 4090 U的设计包括先进的机器人定位和自对准设备,提高了探测的可靠性和重复性。ELECTROGLAS 4090u具有嵌入式控制系统,允许从多个晶圆基板进行控制和数据收集。此设备高度可配置,并提供一系列性能增强选项,有助于确保高投资回报。电气测量模块包括在EG 4090 U的安装中。这提供了一个介于螺旋桨控制机和电气测量工具之间的接口,用于电气表征。它支持广泛的电气硬件和软件,允许自动测量和手动控制。4090 U还带有自动晶片处理功能,最多8个晶片具有连续模式,并且可以自动加载和卸载晶片。这允许在多个晶片基板上进行可重复和快速的探测。此外,ELECTROGLAS/EG 4090 U还具有先进的晶圆映射功能,可以快速准确地映射单个晶圆上的多个站点。这对于产量优化和工艺故障分析特别有益。总体而言,4090u是一种先进而可靠的探针,非常适合在晶圆基板上对单站点和多站点设备进行详细的探测和电气表征。其先进的特性和自动晶圆处理有助于加快吞吐量和产量优化。
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