二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #9151078 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u+是用于测试微电子组件和晶圆的工具。它是一种多功能晶圆prober，结合了高级自动化及其获得专利的3D运动技术，便于编程和操作。EG 4090 U+可以设置为在测试基板上自动运行各种不同的测试和诊断操作,是任何实验室或生产测试环境的宝贵测试资产。ELECTROGLAS EG 4090U+利用其高速3D运动技术，在基板的x、y、θ轴上提供精确定位，允许准确的测试结果。设备的三维（3D）运动技术可以以高达230mm的速度在45°x 45°范围内移动测试头，以加快测试操作。它还具有先进的自动化控制技术，可以编程以优化各种测试操作。自动化系统使探测器放置、样品更改、数据收集和测试切换速度更快、效率更高。除了标准的3D运动技术和自动化控制功能外，ELECTROGLAS/EG EG 4090U+也可以配置用于其他应用。它带有ProbeXPTM和EGViewTM两个软件选项,它们提供了用于表征晶片、半导体器件测试、故障分析和产量监控的强大功能。ProbeXPTM允许晶片上测试、数据采集和图像捕获以及代码编辑和编程。EGViewTM为用户提供测试结果的实时处理、可视化和分析。EG 4090u+的附加特性包括其自动定位能力，可以自动将探头定位在晶圆上；用于检测基板位置的综合视觉单元；用户友好的Windows用户界面,用于直观操作；与外部系统集成的多种通信接口；各种晶圆处理选项；以及可自定义的设计,允许用户根据其测试和应用程序要求定制计算机。总体而言，4090u+是一个高度通用和可靠的晶圆prober。凭借其先进的3D运动技术、自动化控制功能、集成的软件选项和可定制的设计,它是在测试基板上执行各种测试和诊断操作的理想解决方桉。