二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9230524 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u prober是一种高精度探测设备,用于在器件和晶圆水平上测量薄膜和其他电子材料的电气特性。它用于测试具有棋盘格图桉的组件或尺寸不超过.6mm的小垫子。该系统的高精度和可重复性是表征小型设备结构和进行小型电气测量所必需的。Prober配备了由闭环伺服单元驱动的晶片级，可以在任意给定角度从均匀的点对点扫描，最大粒径为5微米。它还采用自动晶圆载荷/卸载机构进行精确的调平控制。该机器还提供可靠的晶圆传输和条形码读取器进行样本识别。EG 4090u还利用可选的头内资源套件提供了广泛的电气测试功能。它提供了良好的合规性测试头到晶片表面，以及广泛的测试解决方桉，不同的设备测量。这些包括精确的电流/电压测量、电阻测量以及瞬态信号和波形的捕获/分析。该工具还提供了全自动晶片级测试解决方桉,称为Hotstage™,用于同时测试相邻模具上的多个设备。Hotstage™提供干式接触和电气隙解决方桉,用于非导电器件的测试,以及大型模具的温度控制测量。ELECTROGLAS 4090 U的创新设计和优越的精确度，使得它可以用于片上资产（SoC）测试和封装、翻转芯片、光学模具封装和压降测试。其定义明确的探测方法消除了对易碎零件的损坏，并提供了极高的精度和可重复性的测量。整个型号设计为可调节和便携式，允许快速和方便的设备重新配置和设置。其高速和自动化功能缩短了设备质量保证的测试时间,从而提高了吞吐量和降低了成本。