二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9252927 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 9252927
Probers Chuck material: Au Chuck type: Ambient and hot (ERS) Z-Resolution: 0.25 mil Options: PTPA PTPO OCR PMI IDI STAA WSSC Tester interface: GPIB Ethernet interface.
ELECTROGLAS/EG 4090u prober是一个全自动测试站,设计用于测量半导体晶圆和其他器件的电气特性。该测试设备能够测试裸机和完全组装的设备,其设计目的是使测试设置和测量速度更快、效率更高。EG 4090u配备了超高分辨率、高速数字成像系统(DIS),使其能够在最小的半导体器件上精确检测和测量电气特性。此DIS具有一系列镜头,以及放大和记录电信号的高分辨率电荷耦合器件(CCD)。该技术可帮助检测设备电气性能的精细细节。ELECTROGLAS 4090 U还设计用于最大限度地减少测试针与被测试设备之间的接触时间。这降低了设备因磨损而损坏的风险。此外,在高湿度的环境中,利用真空/流体补偿来提高性能。该技术确保设备的电气性能不受周围大气的影响。4090u是一种高度精确可靠的测试设备,可以处理各种复杂级别的测试作业。它能够对大小晶片以及具有多种技术的设备进行测试和测量,包括MEMS、RF、CMOS和光学传感器。Prober还配备了一个内置的测试模板库,以及保存测试参数和结果以供将来使用的能力。除了prober的自动化测试功能外,4090 U还具有易于使用的用户界面,使操作员能够快速配置其测试参数。这包括能够设置自定义的测试序列和测量网格,以更好地控制测试过程。Prober还具有一系列用于故障排除的诊断工具,以及导出和导入数据以进行进一步分析的功能。总体而言,EG 4090 U是一种功能强大且可靠的测试设备,能够测量最小的半导体器件。其先进的数字成像系统和真空/流体补偿在任何环境下的准确可靠的测试设备中都是非常宝贵的。利用其内置的测试模板库、高级用户界面和数据导出/导入功能,此Prober可以确保测试过程高效且高效。
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