二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9282309 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u prober是一款先进的半导体测试设备，设计用于快速准确地测试各种芯片设计。该系统采用了复杂的暗场光学显微镜技术来测量电阻率、电容和泄漏等电性能。该单元提供了以极高的速度同时测试多个芯片的能力，允许对高引脚计数样本进行全面测试。Prober包含多个集成子系统，包括对准子系统、电容测量子系统、实时数据采集子系统和半导体参数表征子系统。一个精确和可重复的位置感测装置，确保被测样品被精确定位相对于prober的光学成像元件。电容测量子系统包含电容电压探针和高速数字电感分析仪。实时数据采集子系统允许同时捕获电容和泄漏数据。半导体参数表征子系统能够以8位分辨率对广泛的参数范围进行采样，并提供先进的统计分析能力。与传统的测试方法相比，Prober有许多好处。该机能够对多个芯片同时进行极快的测试，允许用人工测试方法几乎不可能实现的测试。此外,该工具还提供了广泛参数的高精度测量。这使其成为可重复性和可靠性至高无上的生产环境的理想资产。总体而言，EG 4090u prober是一种先进的高速半导体测试模型，提供准确可靠的结果。凭借其多个集成子系统、先进的光学成像元件和高速数字仪器，是快节奏生产环境中高通量测试应用的完美解决方桉。