二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9284227 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u是一种用于测试和分析半导体材料的prober。设计用于电气探测、电容电压（CV）特性探测和光学特性探测。它是一种高精度可靠的prober，可以扫描一个4英寸的样品，分辨率高达0.2微米。Prober有一种名为"Scan-Sweep"的创新技术，允许快速测试和表征多个探测点。可用于测量电流、电容、电阻等电性能等参数；半导体阈值电压、泄漏电流等CV测量；以及折射率等光学特性。EG 4090u具有温度控制的卡盘，有助于保持探头在一定温度范围内的稳定。探测到的设备可以移动到晶片上任何所需的位置,最大可达6毫米。ELECTROGLAS 4090 U所使用的探头是专门为了减少被测装置上的电容负载而设计的，使其适合于精确的测量。Prober还有一个数字控制器，允许用户存储多达99个探测程序，并提供各种探测策略，如并行测试和顺序测试。用户界面有一个大型液晶屏,可提供有关探测器状态的信息,特别是包括探测器的坐标位置。ELECTROGLAS 4090u提供了一个自动测量控制系统，可监控、控制、记录和保存探测结果，方便维护详细的审计跟踪。该程序由高吞吐量的计算机通道供电，能够运行各种测量算法。Prober被设计为兼容最新的晶圆厂测量技术如电子束、X射线和电子显微镜。它也可以与Bias/Probe Units、Low Level Contacts、Magnetic Vacuum Probing systems等探测附件一起使用。总体而言，4090 U是测试和分析半导体材料的可靠而精确的载体。其创新的Scan-Sweep技术、高吞吐量的计算机通道、数字控制器和自动测量控制系统提供了准确高效的结果。