二手 ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #293767733 待售

ELECTROGLAS 4080X是一种用于半导体测试和组装应用的晶圆器.此prober提供了高精度、速度和可重复性的强大组合。其先进的定位系统利用闭环双伺服设计，提高探测精度，减少晶圆到晶圆的方差。4080X能够在25毫米（1英寸）晶片上探测多达32个试验点,在100毫米（4英寸）的行程上可重复性± 0.075 µm。ELECTROGLAS 4080X提供了广泛的探测解决方桉。它的"接触向下探测解决方桉"提供对晶圆上ATE针脚和选定测试站点的接触向下和补偿探测。OpenMapProber系统使用接触下探测和光学定心，对晶圆周界位点和完整地图矩阵进行高精度测试。精细间距对齐Pak （FPAK）允许使用模具连接或翻转芯片与精确对齐的桨叶或接触点连接。Multi-Position Reticle System （MP-RS）旨在在需要对齐多个测试站点时减少探测时间和设置成本。在测量方面，4080X提供了极其准确和可重复的结果。其步进电机配置在100毫米（4英寸）行程上具有0.075 µm的重复性,可确保精确的高分辨率测量。其先进的用于晶片映射器和自动RVP平台的信号完整性电路接口使信号的保真度可靠且可重复。ELECTROGLAS 4080X还包括保护用户和机器免受电击的若干安全功能,其中包括对接地腕带、射频屏蔽和ESD保护区的支持。其远程操作功能便于从启用Internet的设备进行访问,从而允许远程设置和监视prober及其参数。软件界面是直观的,它提供对prober功能的控制,如探测站点、测试结果概述和位置绘图。总体而言,4080X提供了高精度、速度、可重复性和安全功能的强大组合,使其成为半导体测试和装配应用的宝贵工具。ELECTROGLAS 4080X具有强大的设计和先进的技术,能够提供准确、可重复的测量,满足最苛刻的要求。