二手 FITTECH LFP6000 #293659505 待售

製造商
FITTECH
模型
LFP6000
ID: 293659505
优质的: 2013
LED Chip / Wafer probing and testing systems 2013 vintage.
FITECH FITTECH LFP6000 prober是探测细腻半导体材料的高性能测试解决方桉,为半导体材料的表征提供可靠准确的读数。Prober配备了在测试位置之间快速移动的8轴扫描头,允许以小至40 µm的超细分辨率自动探测材料。该程序能够以可重复的精度和最小的读数漂移来生成高质量的数据集。FITECH LFP6000防腐剂设计用于测试多种材料,如硅、氮化助理、氮化铝,甚至石墨烯等特种材料。Prober使用Contact and Non-Contact系统,允许用户快速准确地交换探测器。Prober提供晶圆扫描、模模探测、模包装探测、电气参数测量等多种功能。而且,prober有条形码扫描仪,可用于快速读取和存储晶圆信息,进一步提高探测精度。利用快速的数据传输速率,优化了Prober以缩短周期时间.它还拥有一个真空夹紧系统与专利真空保持,允许紧密和可靠的样品对准。此外,螺旋桨还可以选择手动或自动晶片加载工艺.自动晶片加载过程允许更高的精度和可重复性。FITTECH LFP6000 prober内置了检查功能以确保准确性。它利用各种计量系统和视觉系统来检验和验证晶圆和模具的完整性。此外,prober还配备了原位缺陷显微镜,能够在探测前自动成像可疑缺陷区域。总体而言,FITECH LFP6000 prober为半导体测试和表征提供了可靠准确的解决方桉,具有多种探测功能和检查能力。它是表征新的精细材料的理想工具,具有最严格的分辨率和可重复性要求。
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