二手 KARL SUSS / MICROTEC PA 300 #293765532 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 293765532
优质的: 2006
Prober
SEIWA Optical probing microscope
ATT M300 Temperature controller
(2) CASCADE Prober bench joystick controllers
(2) GBB Picoprobe Power supplies
Micromanipulator
F-046C IRF Camera
FWF Eye piece: 10x
Objective: 2x, 10x
Temperature control
Vacuum chuck, 12"
LED F3000 Illumination source
Dual monitor workstation
CASCADE Prober bench II-LC4-RM Electronic
PC
Power supply: 115 V, 60 Hz
2006 vintage.
KARL SUSS/MICROTEC PA 300是一种自动prober,用于生产和工程,用于探测和测试集成电路。该探测仪提供精确和可重复精确的探测,同时多探测卡探测减少了测试时间。精密支撑系统允许垂直、旋转、横向和倾斜运动,集成的晶圆卡盘最多可容纳8英寸晶圆。Prober有几个兼容的基板,用于各种晶圆大小和类型。Prober包括一个外部显示器、键盘和鼠标,允许编程和操作设置以及定制的探测测试。它还支持广泛的prober能力,包括空军、武力和电气探测。自动探头还允许在2D或3D显微镜成像之间进行选择,当使用嵌入式显微镜系统时,总范围为0.01-36微米。MICROTEC PA 300具有高度的流程自动化,具有大量的流程模板库和可定制的探测器库,允许为您的探测器定制参数。此prober甚至可以用于芯片粘合、检测、故障分析、测试、设备排序等高级应用,确保它具有各种功能,为您提供完美的prober解决方桉。KARL SUSS PA300也易于使用,并具有直观的用户界面来控制其功能。这样可以更轻松地设置作业,并允许快速、轻松地进行探测。PA300的占地面积很小,对于空间不足的实验室和生产厂来说,这是一个绝佳的选择。它的快速变更规格允许快速的探针卡转换,自动清洗系统使其非常高效。归根结底,KARL SUSS PA 300是集成电路自动探测和测试的理想选择。MICROTEC PA300具有精确支持系统、显微镜成像、广泛的可自定义探针库、芯片粘合功能和直观的用户界面等功能,是一种高效的处理器,它在一个小包装中提供了许多功能。
还没有评论