二手 KARL SUSS / MICROTEC PA 300 #9249014 待售

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ID: 9249014
优质的: 2001
Probe station Programmable microscope movement: 50 x 50 x 130 MITUTOYO FS-60 Microscope Objectives: 10x, 50x, and SL 100x Probe card holder, 4.5" SUSS VIT751 Vibration isolation table Isolated chuck with distributed vacuum holes Additional chuck for calibration substrates Probe heads and arms Prober bench control unit for Windows XP Prober control electronics Prober programmer tools 2001 vintage.
KARL SUSS/MICROTEC PA 300是一种高精度的prober仪器,设计用于精确地测量和分析集成电路和小晶片等样品上的元件。MICROTEC PA 300具有近500 mm x 500 mm的大工作区,允许探测大样本量。自动样品调平和定心设备可确保样品一致对齐,快速重复运动可优化样品步骤并最大程度地减少系统时间。该单元由三个主要组成部分组成:样品定位级、探头和探头卡。示例定位阶段由X-Y表、高度调整机构和对齐机组成。定位阶段允许样品的精确移动,以及探测过程中探头的精确定位。探头由高压电源和探头卡组成,根据所需的电气测量类型量身定制。探测器头包含各种探测器尖端,这些尖端被选择以匹配所测试样品的精确阵列和几何形状。KARL SUSS PA 300的高级软件套件有助于自动执行探测过程。它具有自动调平功能,使用户能够轻松快速地创建探测模式,而无需手动调平示例。可以为每个测量设置测量参数,并且可以保存这些参数以供以后使用。软件还允许手动干预,用户可以在其中手动调整接触点的映射,以及探测器定位的对准和速度。MICROTEC PA300 prober配备了先进的视觉识别软件,有助于提高探测过程的准确性。它可以自动识别测试样品上的特征,如电阻器和电路,并计算探测的最佳位置。结合高分辨率相机,prober可以获取样品表面的图像并显示在计算机上进行视觉检查。KARL SUSS PA 300还支持自动化数据报告,允许用户及时分析样品的电性能。它可以生成纸质报告或图表,以及将数据导出到其他软件应用程序,使其适合于无数的数据分析。总体而言,PA 300为测量和分析集成电路及其他样品元件提供了精确可靠的解决方桉。
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