二手 KLA / TENCOR 1007E #9254091 待售
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KLA/TENCOR 1007E Prober是为半导体器件测试操作而设计的多应用程序Prober。Prober由多个组件组合而成,包括全自动DPM（数字模式测量）模块、舞台、步进电机和光机头。这种组件组合为测试小型集成电路提供了高性能、可靠、准确的方法。DPM模块具有高清分辨率监视器,允许精确的模式测量,以及专用的视频处理组件,如帧缓冲器和CCD成像芯片。该级采用闭环步进电机，能够精确定位样品，以每秒0.1至2.0微米或更高的速度探测。光机头利用光学成像系统将探针精确对准样品表面。头部还能够快速调整其位置，允许可重复的低噪声探测。KLA 1007E Prober被设计成一个通用、高效的半导体器件测试和表征系统。Prober包括一个集成的阶段控制控制台（SCC）,用于配置、控制和监视prober的操作。SCC具有一个可访问所有prober命令的控制面板,以及用于实时设置和监视prober性能的图形用户界面。此外,它还提供程序文件,使用户能够存储和召回探测器和舞台配置。TENCOR 1007E Prober被设计为与各种探测系统兼容，包括接触探针、应变计探针、利兹导线和开销探针。它也可以与介电探针一起用于热表征。Prober配有数字输入输出（I/O）端口,用于连接PC以进行数据采集和控制。内置隔离层可保护设备免受可能影响测量的静态、热量和其他干扰。综上所述，1007E Prober是一种用于半导体器件测试操作的多应用自动化Prober。它有一个高精度的DPM模块，一个可靠的步进电机定位样品，和一个光机头可重复探测。Prober与各种探测系统兼容，并具有用于编程、控制和监控的Stage Control Console。内置的隔离层保护设备不受各种环境影响，允许精确和可重现的测量。
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