二手 KLA / TENCOR 1007HF #141211 待售

KLA/TENCOR 1007HF Prober是一种最先进的晶片探测解决方桉,旨在提供和检查无与伦比的精度和吞吐量的自动晶片级设备测试。KLA 1007HF Prober为半导体制造商提供了前所未有的优势,例如更快的测试时间、更高的精度和更高的产量性能。它具有高分辨率和高重复性，是工艺开发和测试表征的理想选择。TENCOR 1007HF Prober具有经过验证的开放式体系结构平台,支持对多种晶圆类型和复杂设备结构进行测试和表征。它利用先进的探针，如间距控制晶片（PCW）、2-6维装配车道切片晶片（ASW）和应用特定集成电路（ASIC）。1007HF Prober还支持具有几种高速模式的单击和多击测试。KLA独特的低级电气表征功能使工程师能够通过高速、高分辨率测量来推断在晶片上收集的数据。KLA/TENCOR 1007HF Prober提供了一套可靠的测试算法,无论复杂程度如何,都能提供准确的结果。此外,KLA 1007HF Prober通过支持自动加载、卸载和排序功能来简化测试过程。TENCOR功能强大的闭环探针控制技术确保测试步骤准确、可重复、可靠。TENCOR 1007HF Prober提供了一个软件控制的解决方桉,用于处理晶圆探测请求,并增加了强大的基于软件的扫描加速功能。这使用户能够自定义扫描以获得最佳性能和产量。1007HF Prober具有先进的视觉系统和一套高级成像功能。该系统准确检测缺陷，确保只测试质量最高的晶片。它还测量和报告关键尺寸、adset和背景属性。KLA/TENCOR 1007HF Prober非常灵活,能够配置为单探针或多探针系统,提供无限的可扩展性和额外的性能。其紧凑的设计和模块化的配置，使其能够方便快速地进行改装，以适应300 mm晶圆测试和高功率应用等专业。KLA 1007HF Prober是用于半导体器件测试的理想晶片prober解决方桉,非常适合需要高性能和精确测量的测试实验室。