二手 KLA / TENCOR 1201 #9122040 待售

KLA/TENCOR 1201 Prober是为微电子零件检测而设计的先进计量工具。它提供了多种性能功能,可提供可靠的测量功能,包括高吞吐量、可重复性、较小的现场精度和超薄膜分析精度。KLA 1201 Prober设计用于处理各种晶圆尺寸。它可以支持最多8英寸的晶片与可调间距，利用手工或自动化阶段精确定位工件。该工具还为快速吞吐量提供了快速扫描速率,并为深入测量提供了广阔的视野。TENCOR 1201 Prober拥有先进的光学设备,可进行高度精确的测量。光学器件结合了先进的轨道安装变焦镜头与高分辨率相机和可变视野。该系统提供了广泛的成像能力，从测量晶片上的小特征到在一次扫描中检查整个晶片。专有的KLA高级成像算法也提供了高度的准确性。1201 Prober的多传感器探头允许测量多个参数，包括粒径、粒度、粒度形状、表面光洁度和线宽。它还具有广泛的取样方向,以实现最佳成像和剖析。多传感器探针还与各种测试夹具兼容，提供灵活的测试方法。KLA/TENCOR 1201 Prober的自动对准装置通过频繁的传感器重新校准来确保精确的测量。KLA 1201 Prober具有高速数据传输能力,为可靠的计量提供了先进的性能。它还支持一套用于流程监控和数据分析的软件工具。总体而言，TENCOR 1201 Prober是一种功能强大、用途广泛的检测微电子零件的计量工具。它提供了广泛的性能特性、高精度、快速的吞吐量以及多种测试夹具,以实现最大的灵活性。1201 Prober具有自动对齐机和先进的成像算法，是有效可靠计量的理想选择。