二手 MULTIPROBE MP1 #9118406 待售

製造商
MULTIPROBE
模型
MP1
ID: 9118406
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Atomic Force Prober (AFP), 12" Micro probing transistors (3) Probe heads Probing enclosure Electronic rack with controllers for heads Optical microscope PC Includes: Semiautomatic stage Optics and probe head control 2006 vintage.
MULTIPROBE MP1是一种自动化的高精度晶圆探测设备,专为广泛的测试应用而设计。它配备了适用于探测小触点的100毫米电动刀刃直角探头组件,以及用于探测较大触点的200毫米槽刀刃圆柱形探头。该单元有三个计量系统,一个激光/光掩模,一个电容式传感器,以及一个编量器计量系统,使该单元能够准确地在晶圆上放置探针。该单元还配备了先进的显微镜系统和各种用于测量触点大小、形状和方向的开发协议。MP1有一个可编程的接口,加上强大的软硬件机器,可以用于各种高精度的测试应用。它灵活的内存、全套光学和光机械探针,以及先进的阵列设计功能,使它能够在传统手动测试所需时间的一小部分内完成多个晶圆探针测试周期。该工具能够达到2 µm以下的分辨率,并且能够在10MHz以下的多个频率下进行测试。MULTIPROBE MP1设计用于高效制造高密度印刷电路板或探测一次性设计。嵌入式编程允许该单元在多种场景中使用,包括生产测试、实验室测试和高级故障分析。该设备适用于需要高精度、速度和重复性的应用,如光学、射频和电源设备。该单位还有一系列内置的计量系统,以确保位置和长度准确。MP1的超精确晶圆探测能力使其成为实验室或工厂现场测试集成电路的完美解决方桉。其强大的设计、超精确的探测技巧以及灵活的硬件和软件使其成为任何测试应用程序的可靠且经济高效的解决方桉。
还没有评论