二手 NIHON MICRONICS / MJC MP-10-8 #9086733 待售

ID: 9086733
晶圆大小: 8"
Manual probe station, 8" Calibrated StereoZoom optics Probe card holder.
NIHON MICRONICS/MJC MP-10-8 Prober是一种完全集成的高速检测设备,能够测量各种半导体器件的电性能,如芯片、晶体管和集成电路(ICs)。该系统旨在精确测量设备的电气特性,包括电气响应时间、芯片尺寸和电阻。该单元还支持各种探测技术,如机械探测、电气探测和反向探测。MJC MP-10-8 Prober能够以高达15kHz的速度进行测量,并具有500根用于探测的针头阵列。这些针安装在可移动的手臂上,能够与设备快速精确地接触。针头是可调的,可以安装以容纳各种尺寸的芯片和装置。该机器包括用于监测环境的各种传感器,可以很容易地连接到任何计算机进行数据收集和分析。NIHON MICRONICS MP-10-8 Prober有一个自动化平台,可以轻松、准确地执行许多不同的测试。它配备了车载信号发生器和mal-probing探测器,以确保准确的结果。Mal-probing探测器的射程高达500 µm,可以检测芯片上是否存在桥梁、短裤和其他故障。该工具包括驱动器电压保护和短路保护,以确保不损坏设备。MP-10-8 Prober还有一个集成的PID反馈控制器,可以进行精确一致的探测。只要探头在指定范围内,就可以对控制器进行编程以保持稳定接触。这有助于提高结果的准确性和可重复性。NIHON MICRONICS/MJC MP-10-8 Prober还包括一个先进、用户友好的软件包,使其易于测量、分析和存储数据。该软件包允许定制测试参数,并可用于调整参数(如温度回路和压力设置)。该软件还支持打印输出、图形图和统计分析等广泛的数据分析功能。MJC MP-10-8是一种可靠、高速的prober资产,适用于各种应用。它非常适合在开发过程中测试设备或进行生产。NIHON MICRONICS MP-10-8的灵活性和效率确保了准确的测量和可靠的结果。
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