二手 PROBING SOLUTIONS 400 #9004364 待售

PROBING SOLUTIONS 400是半导体和微电子工业中用于晶圆探测和晶片测试的prober。它支持对电路和组件进行高精度、自动化的静态和动态测试。Prober利用一套超精密、高级的测试夹具,以极高的精度和可重复性进行探测,以及一个允许高速、高分辨率捕获测试数据的多元件传感器平台。它支持广泛的晶片和基板，并为不同的设备特性提供多种测试模式。Prober的设计考虑到了易用性和灵活性。它具有大型液晶触摸屏面板,可轻松访问所有操作模式和参数。Prober还包括几种图形用户界面（GUI）工具,使用户能够快速创建和修改测试模式、应用偏差设置以及自动执行测试操作。此外,高速通信界面使用户能够轻松地将处理器与外部计算机和控制系统集成在一起。400 prober包括一个机械臂，用于晶片和基板的精确和可重复对准，用于测试。其主轴驱动系统专为高精度应用而设计，每轴峰值精度为25 µm，可重复性为9 µm。该探测器还具有高度灵敏的电容传感技术，能够进行精确、可重复的测量和广泛的测试电流。这样就得到了非常精确的结果,具有最小的样品操作、最小的探针力和最大的速度。该程序还包括各种用于手动和自动测试的软件工具。它提供了一组应用程序编程接口（API），允许用户开发用于测试的自定义脚本和软件。它还提供对第三方软件和硬件工具的访问，以进一步提高测试效率，包括广泛的测试头、激光、显微镜、粒子计数器和其他设备。此外，它先进的计量工具使它能够进行精确的测量，如薄片阻力、厚度和污染。总之，PROBING SOLUTIONS 400 prober是一种先进的测试解决方桉，适用于要求最苛刻的微电子和半导体测试应用。其精密的机械臂、电容感应技术和软件工具为各种晶圆和基板提供了超精确和可重复的测试。其多种测试模式、灵活的接口和强大的软件使其成为自动电路和组件测试的理想选择。