二手 QMC DPS 600 #9379306 待售
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QMC DPS 600（Dynamic Publications Semiconductor）是一种用于半导体器件制造的prober。它旨在提供集成电路（IC）上组件的精确和可重复的计量读数。DPS 600使用四尖端扫描头和线性检测系统来测量诸如蚀刻图桉、氧化物厚度和电阻等特征。它还能够测量晶片上电路特性如Vt、漏源电阻、栅极、晶体管、二极管和电容器。Prober利用高速运动系统在测试点之间快速移动并进行测量而不影响精度。它由高分辨率CCD相机提供动力，该相机甚至可以检测晶圆内最小的特征。该工具还配备了高度精确的手动晶片对齐器，允许操作员在被探测之前手动定位晶片。这种对齐特性具有± 3微米的重复性。Prober具有独特的特性，如多深度探测，允许它在多层上同时进行测量，并支持高温探测，这在探测晶体管和其他温度敏感设备时很有用。该工具还附带了一个触摸屏用户界面，简化了prober的操作。QMC DPS 600允许对各种测试点进行编程,以最大限度地提高其准确性和可重复性。它支持单面和双面探针，能够处理直径达200毫米的晶片。该工具还具有各种连接选项,如IEEE 1394、USB和RS 232,以允许数据传输到第三方系统。DPS 600是一款先进的道具,提供卓越的准确性和可重复性。它的特点使得它成为需要精确和可重复计量读数的半导体器件制造商的理想解决方桉。该工具还具有用户友好的设计，简化了操作，使操作员更容易使用。
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