二手 QMC DPS 600 #9379307 待售
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QMC DPS 600是一种设计用于晶圆探测和晶圆排序测试的高度先进的半导体探测器。该工具有助于快速准确地评估晶圆或其他类型半导体器件的电气性能和可靠性特性。DPS 600采用集成的负载框架和支撑主体设计。全自动探头的高分辨率多轴运动和模式识别能力使其成为高通量、高精度探测作业的绝佳选择。它的多轴运动控制设备允许prober在无限个方向的多个点上精确探测。Prober被设计成在所有操作中都是高度精确、准确和可重复的。QMC DPS 600有多种传感器，包括激光扫描仪、晶圆分离器、电气传感器和视觉系统。激光扫描仪精确地检测和测量晶片的开合状态电特性。晶片分离器精确识别晶片并将其分成四个相等的部分。电气传感器精确测量各部分的电气特性。最后，晶片安装视觉单元以极高的精度捕获和分析晶片表面。DPS 600的完整组装包括计算机控制的定位和穿梭机构、高速摄像机、微调测量机构的激光机。集成的探测站和航天飞机控制在精确控制探头从一个接触点到另一个接触点的移动方面提供了灵活性。高速摄像机捕获并存储探针触点通过不同点时的图像。激光工具有助于微调探针的对准，以确保触点放置的准确性。QMC DPS 600每晶圆事件计数成本低，由于能够在同一晶圆上测量多个点，吞吐量高。它的多轴运动控制和模式识别功能提供了最准确和可重复的结果。此外，其机载软件具有强大的校准和诊断选项，大大提高了其有效使用。总体而言,DPS 600是一种可靠、准确、经济高效的自动化Prober,是满足高通量晶圆探测和晶圆排序测试需求的理想选择。
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