二手 QMC DPS 600 #9379310 待售
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QMC DPS 600是一种用于测试多芯片模块（MCM）的prober。它是一种全自动晶片探测器,具有很高的吞吐量、精度和准确性。它能够测试高达6000毫米的MCM,周期时间低至0.7秒。它具有多种功能,包括一个大的工作包络、一个集成的电气接触检查系统、能够与多个测试系统连接的功能,以及一个包含精密电机驱动器、线性化编码器和线性运动导轨的强大设计和结构。DPS 600设计用于处理各种不同的测试方法,包括各种手动或自动接触和非接触测量。其集成的视觉系统使得可以进行种类繁多的测量，包括光学故障和模具分选、封装光学厚度、基准标记扫描和焊接检查。它还能够测试由来自不同半导体工艺的组件组成的MCM。QMC DPS 600提供高度的环境控制,包括温度和湿度设置。它具有很高的精确度、精确度和可重复性，精确度为3微米或更高。它的低真空设置允许更好的模具质量控制，而其安装在天花板上的装载机使得手动装载测试晶片或载流子变得更容易、更快。它还能够容纳许多不同类型的载波，包括最多八（8）个模行的载波。DPS 600使用易于使用的PCI图形用户界面制造,它允许控制几种不同的功能,包括晶圆移动、操作和环境。用户还可以查看实时参数和设置。此外,PCI PCI-X接口旨在提供对显示器和控制器的更稳定访问。QMC DPS 600对于那些寻求精确、高效和经济高效的自动化Prober解决方桉的用户来说是一个绝佳的选择。其简单的用户界面、先进的功能和强大的设计使其成为任何类型的多芯片模块测试用途的绝佳选择。
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